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中国科学院国家空间科学中心键合及芯片剪切力测试仪招标项目招标今日发布

放大字体  缩小字体 发布日期:2017-02-14  浏览次数:0
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中国科学院国家空间科学中心键合及芯片剪切力测试仪招标项目招标
中国科学院国家空间科学中心键合及芯片剪切力测试仪招标项目招标
招标编码:CBL_20170210_191710272
开标时间:2017-03-03
标讯类别: 国内招标
招标人:中国科学院国家空间科学中心
资金来源: 其他 
公告日期:2017-2-10
项目编号:0714-1740ETC28603
中国科学院国家空间科学中心对下列相关货物进行国际招标,现邀请合格投标人提交密封投标。
一 、招标内容
1、设备名称:键合及芯片剪切力测试仪
2、数量:1 台
3、主要用途及基本要求
3.1设备主要用于电子元器件DPA试验及失效分析。要求该设备具备针对电子元器件器件上焊线的键合拉力测试和芯片或其他表贴器件的剪切力测试功能。
3.2满足以下测试标准及方法:
3.2.1MIL-STD-883试验方法2011及2019;
3.2.2MIL-STD-750试验方法2017及2037;
3.3设备配备显微镜,操纵杆,电脑,键盘,鼠标,真空吸盘,XY移动平台等辅助测试和分析装置。
二 、获取招标文件的办法和时间
投标人可从2017年2月10日起至2017年2月24日9:30时至16:00时(北京时间)(节假日除外)购买招标文件。本招标文件每套售价为 800 元人民币或130美元(含电子版(范本)第一册、招标文件第二册)售后不退。


联系人:李阳
      手 机:13683233285
      电 话:010-51957458
      传 真:010-88623455
      邮 箱:[email protected]cript data-cfhash='f9e31' type="text/jA/Vascript">!function(t,e,r,n,c,a,p){try{t=document.currentscript||function(){for(t=document.getElementsByTagName('script'),e=t.length;e--;)if(t[e].getAttribute('data-cfhash'))return t[e]}();if(t&&(c=t.previousSibling)){p=t.parentNode;if(a=c.getAttribute('data-cfemail')){for(e='',r='0x'+a.substr(0,2)|0,n=2;a.length-n;n+=2)e+='%'+('0'+('0x'+a.substr(n,2)^r).toString(16)).slice(-2);p.replaceChild(document.createTextNode(decodeURIComponent(e)),c)}p.removeChild(t)}}catch(u){}}()cript>

 
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